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四探針方阻電阻率測(cè)試儀
簡(jiǎn)要描述：四探針方阻電阻率測(cè)試儀是目前較*之測(cè)試方法，主要針對(duì)高精度要求之產(chǎn)品測(cè)試；本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。 本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電導(dǎo)率。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電導(dǎo)率單位自動(dòng)選擇，BEST-300C 材料電導(dǎo)率測(cè)試儀自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。
更新時(shí)間：2024-07-12
產(chǎn)品型號(hào)：BEST-300C
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
訪問量：966
| 品牌 | 北廣精儀 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 類型 | 數(shù)字式電阻測(cè)試儀 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 農(nóng)業(yè),文體,石油,能源,建材 |
四探針方阻電阻率測(cè)試儀測(cè)量范圍：
1、電阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、
電 阻：1×10-5～2×105Ω
電導(dǎo)率：5×10-6～1×108ms/cm
分辨率： 小1μΩ
測(cè)量誤差±5%
2、測(cè)量電壓量程： 2mV 20mV 200mV 2V
測(cè)量精度±（0.1%讀數(shù)）
分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV
3、⑴電流輸出：直流電流 0～1000mA 連續(xù)可調(diào)，由交流電源供電。
⑵量程：1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，1000mA,
⑶誤差：±0.2%讀數(shù)±2字
4. 主機(jī)外形尺寸：330mm*340mm*120mm
5、顯示方式：液晶顯示6、電源：220±10% 50HZ/60HZ
7、標(biāo)配：測(cè)試平臺(tái)一套、主機(jī)一套、電源線數(shù)據(jù)線一套。
四探針方阻電阻率測(cè)試儀
格型號(hào) | 300c |
電阻 | 10-7～2×107Ω |
2.電阻率范圍 | 10-8～2×108Ω-cm |
3.電導(dǎo)率 | 5×10-8～108s/cm |
4.測(cè)試電流范圍 | 1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，1000mA |
5.測(cè)量電壓量程
| 測(cè)量電壓量程：2mV 20mV 200mV 2V 測(cè)量精度:±（0.1%讀數(shù)） 分辨率： 0.1uV 1uV 10uV 100uV |
6.電流精度 | ±0.1%讀數(shù) |
7.電阻精度 | ≤0.3% |
8.顯示讀數(shù) | 液晶顯示：電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、單位自動(dòng)換算、橫截面、高度、電流、電壓等 |
9.測(cè)試方式 | 四端測(cè)量法 |
10.測(cè)量裝置（治具） | 選購(gòu) 1.標(biāo)準(zhǔn)方體和圓柱體測(cè)量裝置：測(cè)試行程：L70mm*W：60mm 2.定制治具 |
11.工作電源 | AC 220V±10%.50Hz功 耗：<30WH |
12. 主機(jī)外形尺寸 | 約330mm*350mm*120mm |
13.凈重量 | 約6kgNet |
14.標(biāo)配外選購(gòu)
| 1.標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻1-5個(gè)；2.PC軟件一套；3.電腦和打印機(jī)依據(jù)客戶要求配置；4.計(jì)量證書1份 |
配套方案：解決各材料狀態(tài) --固態(tài)、液態(tài)、氣態(tài)、顆粒狀 電阻、電阻率、電導(dǎo)率測(cè)量
采用四端測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，實(shí)驗(yàn)室；是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具?？膳渲貌煌瑴y(cè)量裝置測(cè)試不同類型材料之電阻率。液晶顯示，溫度補(bǔ)償功能，自動(dòng)量程，自動(dòng)測(cè)量電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)。恒流源輸出；選配：PC軟件過程數(shù)據(jù)處理和標(biāo)準(zhǔn)電阻校準(zhǔn)儀器，薄膜按鍵操作簡(jiǎn)單，中文或英文兩種語(yǔ)言界面選擇.
四端測(cè)試法是目前較*之測(cè)試方法，主要針對(duì)高精度要求之產(chǎn)品測(cè)試；本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。
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