耐電弧試驗(yàn)機(jī)(高電壓小電流測試儀)產(chǎn)生
電弧當(dāng)用開關(guān)電器斷開電流時(shí)，如果電路電壓不低于10—20伏，電流不小于80~100mA，電器的觸頭間便會產(chǎn)生電弧。   因此，在了解開關(guān)電器的結(jié)構(gòu)和工作情況之前，首先來看看其是如何產(chǎn)生和熄滅的。   電弧的形成是觸頭間中性質(zhì)子(分子和原子)被游離的過程。開關(guān)觸頭分離時(shí)，觸頭間距離很小，電場強(qiáng)度E很高(E = U/d)。當(dāng)電場強(qiáng)度超過3×10^6V/m時(shí)，陰極表面的電子就會被電場力拉出而形成觸頭空間的自由電子。這種游離方式稱為：強(qiáng)電場發(fā)射。   從陰極表面發(fā)射出來的自由電子和觸頭間原有的少數(shù)電子，在電場力的作用下向陽極作加速運(yùn)動(dòng)，途中不斷地和中性質(zhì)點(diǎn)相碰撞。只要電子的運(yùn)動(dòng)速度v足夠高，電子的動(dòng)能A=1/2mv^2足夠大，就可能從中性質(zhì)子中打出電子，形成自由電子和正離子。這種現(xiàn)象稱為碰撞游離。新形成的自由電子也向陽極作加速運(yùn)動(dòng)，同樣地會與中性質(zhì)點(diǎn)碰撞而發(fā)生游離。碰撞游離連續(xù)進(jìn)行的結(jié)果是觸頭間充滿了電子和正離子，具有很大的電導(dǎo)；在外加電壓下，介質(zhì)被擊穿而產(chǎn)生電弧，電路再次被導(dǎo)通。   觸頭間電弧燃燒的間隙稱為弧隙。電弧形成后，弧隙間的高溫使陰極表面的電子獲得足夠的能量而向外發(fā)射，形成熱電場發(fā)射。同時(shí)在高溫的作用下(電弧中心部分維持的溫度可達(dá)10000℃以上)，氣體中性質(zhì)點(diǎn)的不規(guī)則熱運(yùn)動(dòng)速度增加。當(dāng)具有足夠動(dòng)能的中性質(zhì)點(diǎn)相互碰撞時(shí)，將被游離而形成電子和正離子，這種現(xiàn)象稱為熱游離。

隨著觸頭分開的距離增大，觸頭間的電場強(qiáng)度E逐漸減小，這時(shí)電弧的燃燒主要是依靠熱游離維持的。   在開關(guān)電器的觸頭間，發(fā)生游離過程的同時(shí)，還發(fā)生著使帶電質(zhì)點(diǎn)減少的去游離過程。

耐電弧試驗(yàn)機(jī)(高電壓小電流測試儀)

主要技術(shù)要求：
   1、輸入電壓：    交流 220 V
   2、輸出電壓：    交流 0--20 KV ; 
   3、電器容量：    1.5 KVA
   4、試驗(yàn)方式：    間歇電弧，連續(xù)電弧
   5、試驗(yàn)電流：    10MA-20MA-30MA-40MA可選
   6、試驗(yàn)電壓控制誤差： ≤ 2％
   7、電弧通斷時(shí)間誤差： <5ms
   8、試驗(yàn)電壓連續(xù)可調(diào)： 0--20 KV
   9、電極規(guī)格： 不銹鋼板狀電極 25.4mm*12.7mm*0.15mm
                       鎢鋼電極 ￠2.4mm*70mm
                       電極配置角110度
                       電極重量：50G
   10、安全防護(hù)措施：（1）超壓保護(hù)
                            （2）過流保護(hù) 
                            （3）短路保護(hù)
                            （4）安全門開啟保護(hù)
                            （5）軟件誤操作保護(hù)

應(yīng)用領(lǐng)域：

電氣絕緣材料、塑料、薄膜、樹脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸?qiáng)度和耐電壓時(shí)間的測試。也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)性能研究等用途。

滿足標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T1411-2002.《干固體絕緣材料 耐高電壓、小電流電弧放電的試驗(yàn)》

符合ISO9001標(biāo)準(zhǔn)

設(shè)備原理：

本測試儀是在相距6.0±0.1mm（或6.35±0.1mm)的兩電極上，按試驗(yàn)方法規(guī)定的規(guī)律（見上表），由間歇到連續(xù)地施加12.5kV工作電壓和10～40mA的電弧電流，直至試樣失效。記下從試驗(yàn)開始到試樣失效的總時(shí)間(s），即為該試樣的耐電弧。