四探針導(dǎo)電電阻率測試儀廣泛用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻  半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項(xiàng)目要求選購.雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。

技術(shù)參數(shù)

1、電阻率： 1×10-6～2×106Ω.cm、

電   阻：1×10-5～2×105Ω

電導(dǎo)率：5×10-6～1×108ms/cm

分辨率：  小1μΩ
測量誤差±5%
2、測量電壓量程： 2mV   20mV  200mV 2V 
   測量精度±（0.1%讀數(shù)）

分辨率：  0.1uV  1uV  10uV  100uV
3、⑴電流輸出：直流電流 0～1000mA 連續(xù)可調(diào)，由交流電源供電。
   ⑵量程：1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，1000mA, 
   ⑶誤差：±0.2%讀數(shù)±2字

4. 主機(jī)外形尺寸：330mm*340mm*120mm

5、顯示方式：液晶顯示6、電源：220±10% 50HZ/60HZ

7、標(biāo)配：測試平臺一套、主機(jī)一套、電源線數(shù)據(jù)線一套。

測量范圍、分辨率（括號內(nèi)為拓展量程，可定制）

四探針導(dǎo)電電阻率測試儀滿足GB/T 1551、GB/T1552-1995，ASTM F84美國A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。2）四探針法粉末測試平臺依據(jù)GBT 30835-2014《鋰離子電池用炭復(fù)合磷酸鐵鋰正極材料》中關(guān)于粉末電導(dǎo)率的測定方法中用于仲裁方法的四探針法要求制作.

功能概述：采用高精度集成電路模塊；全自動化焊接電路，4.3吋液晶顯示器，薄膜按鍵操作，整體大方，人體工學(xué)的結(jié)構(gòu)設(shè)計，自帶溫度，USB，232通訊接口，高精恒直流恒流源系統(tǒng)，提供四探針法和四端法兩種測量模式并存，中英兩種語言版本選擇；選購：PC軟件可以獲得測試過程數(shù)據(jù)及變化圖表曲線，包括壓力與電阻，電阻率，電導(dǎo)率的變化關(guān)系，及報表生成，存儲，打印等；PC軟件能實(shí)現(xiàn)電腦操控整個測量過程，選購：四探針法粉末測試平臺提供全自動平臺或手動操作平臺兩種；選購配置四探針探頭可以用于對涂層，薄膜，等半導(dǎo)體材料方阻的測量.本機(jī)采用雙電組合測量方法.