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手機(jī)貼膜四探針?lè)阶桦娮杪蕶z測(cè)儀
簡(jiǎn)要描述:手機(jī)貼膜四探針?lè)阶桦娮杪蕶z測(cè)儀硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽(yáng)能電池、電子元器件,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜, EMI 防護(hù)材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等,提供中文或英文兩種語(yǔ)言操
更新時(shí)間:2024-07-17
產(chǎn)品型號(hào):BEST-300C
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問(wèn)量:577
品牌 | 北廣精儀 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) |
---|---|---|---|
類(lèi)型 | 數(shù)字式電阻測(cè)試儀 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,交通,汽車(chē),電氣 |
手機(jī)貼膜四探針?lè)阶桦娮杪蕶z測(cè)儀國(guó)標(biāo)單晶硅物理測(cè)試方法及 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換,進(jìn)行兩次電測(cè)量,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析,解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響
手機(jī)貼膜四探針?lè)阶桦娮杪蕶z測(cè)儀操作流程和測(cè)試步驟
1.使用前期準(zhǔn)備--測(cè)試前準(zhǔn)備工作:
1.1.開(kāi)機(jī)預(yù)熱:將220V電源插頭插入電源插座,打開(kāi)電源開(kāi)關(guān),讓儀器預(yù)熱15分鐘,保證測(cè)試數(shù)據(jù)穩(wěn)定。若測(cè)試儀無(wú)法正常啟動(dòng),請(qǐng)按以下步驟檢查:
①檢查電源線是否接觸良好;
②檢查后面板上的電源開(kāi)關(guān)是否已經(jīng)打開(kāi)
③檢查保險(xiǎn)絲是否熔斷,如有必要,請(qǐng)更換保險(xiǎn)絲
④ 如經(jīng)上述檢查無(wú)誤后,測(cè)試儀仍未正常啟動(dòng),請(qǐng)聯(lián)系本公司進(jìn)行解決。
1.2.準(zhǔn)備好被測(cè)物,鏈接好測(cè)試探頭,把測(cè)試探頭接口與主機(jī)接口相連接,并鎖定,防止松動(dòng)或接觸不良而對(duì)測(cè)試結(jié)果造成影響.
1.3.接通電源,開(kāi)啟電源開(kāi)關(guān),待儀器液晶顯示屏上顯示出廠家和產(chǎn)品信息后,如圖3,按“顯示"鍵進(jìn)入,
1.4.進(jìn)入測(cè)試功能界面如圖4、圖5;如測(cè)試方阻時(shí),請(qǐng)選擇液晶顯示屏又側(cè)對(duì)應(yīng) 的功能按鍵“方阻",則進(jìn)入方阻測(cè)試界面;如測(cè)試其他材料時(shí),請(qǐng)選擇“材料"則進(jìn)入材料電阻,電阻率,電導(dǎo)率測(cè)試儀界面。
1.5.設(shè)置好被測(cè)物所需之參數(shù),把被測(cè)物放于測(cè)試治具平臺(tái)上操作,測(cè)試完畢直接顯示測(cè)試數(shù)據(jù)。如配置軟件,軟件操作說(shuō)明書(shū)同安裝軟件在一起,請(qǐng)注意查看操作步驟.
以下分別講解方阻和材料測(cè)試的設(shè)置
2.四探針雙電方阻測(cè)試步驟
2.1.上述步驟中1項(xiàng),使用前期準(zhǔn)備
2.2 把被測(cè)物測(cè)試所需要之參數(shù)數(shù)據(jù)設(shè)定:
2.2.1依據(jù)不同之測(cè)試樣品,選擇被測(cè)試電流,電流設(shè)置:按方向鍵移動(dòng)光標(biāo)至“電流"功能,按“設(shè)置"鍵進(jìn)入;再按“左右"方向鍵選擇電流數(shù)據(jù),選擇完畢后按“確定"鍵進(jìn)行確認(rèn)。按照以上步驟和方法選擇電壓、長(zhǎng)度單位、探針形狀設(shè)定、溫度.
2.2.2.探針間距數(shù)據(jù)的輸入,探針間距出廠時(shí)已經(jīng)標(biāo)定,無(wú)需再次測(cè)量,探針頭上有詳細(xì)的探針數(shù)據(jù)資料,探針間距的設(shè)置:將光標(biāo)移動(dòng)至“探針間距"按“設(shè)置"鍵進(jìn)入,通過(guò)面板上面的“數(shù)字"按鍵輸入數(shù)據(jù)按“確定"鍵進(jìn)行確認(rèn);按照以上方法和步驟設(shè)定"厚度“,注意厚度和探針間距修正系數(shù)表已經(jīng)設(shè)置在儀器程序中,自動(dòng)修正,無(wú)需再次輸入和查詢(xún)表格。
2.3.測(cè)試探頭和測(cè)試平臺(tái)操作
選配測(cè)試平臺(tái)的將被測(cè)物放在測(cè)試平臺(tái)上,調(diào)節(jié)探頭探針與樣品良好接觸,探頭有二種,一種是探針是彈簧針型,一種是硬針而探頭內(nèi)腔有彈簧;探頭有方型和直線型兩種結(jié)構(gòu);調(diào)節(jié)測(cè)試平臺(tái)上的水平定位角,保證水平儀水準(zhǔn)在中心位置;放置好被測(cè)物品,后壓下探頭至被測(cè)物,帶數(shù)據(jù)穩(wěn)定后讀取.
方阻測(cè)試時(shí),在測(cè)試時(shí)電流的選擇也不同
1.方塊電阻 10^-5~2×10^5Ω/□2.電阻率 10^-6~2×10^6Ω-cm
3.測(cè)試電流 0.1μA.μA.0μA,100μA,1mA,10mA,100mA4.電流精度 ±0.1%
5.電阻精度 ≤0.3%6.顯示讀數(shù) 屏液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率7.測(cè)試方式 雙電測(cè)量
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