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聚酯薄膜電氣絕緣強(qiáng)度檢測(cè)儀
簡(jiǎn)要描述:聚酯薄膜電氣絕緣強(qiáng)度檢測(cè)儀設(shè)備組成:主機(jī)、計(jì)算機(jī)、電極電極規(guī)格:25mm、75mm、6mm電器容量:3KVA、5KVA、10KVA耐壓時(shí)間:0-8H安全保護(hù):九級(jí)安全保護(hù)
更新時(shí)間:2024-07-18
產(chǎn)品型號(hào):BDJC-50KV
廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
訪問(wèn)量:461
品牌 | 北廣精儀 | 價(jià)格區(qū)間 | 2萬(wàn)-5萬(wàn) |
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擊穿電壓 | 50KV | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,建材,交通,汽車,電氣 |
聚酯薄膜電氣絕緣強(qiáng)度檢測(cè)儀1、范圍
GB/T1408的本部分規(guī)定了測(cè)量固體絕緣材料工頻(即48Hz~62Hz)短時(shí)電氣強(qiáng)度的試驗(yàn)方法.本部分規(guī)定了用液體和氣體作為固體絕緣材料試驗(yàn)時(shí)的浸漬劑或周圍媒質(zhì),但不適用于液體和氣體的試驗(yàn).
注:本部分包括測(cè)定團(tuán)體絕緣材料表面擊穿電壓的方法.2、規(guī)范性引用文件下列文件中的條款通過(guò)GB/T 1408的本部分的引用而成為本部分的條款。 凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改單<不包括勘誤的內(nèi)容>或修訂版均不適用于本部分,然而,鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成 協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的版本。 凡是不注日期的引用文件,其版本適用于本部分.
GB/T 1981. 2-2003 電氣絕緣用漆第2部分:試驗(yàn)方法(IEC 60464“2: 2001, IDT)
GB/T 7113. 2-2005 絕緣軟管 試驗(yàn)方法(IEC 60684-2:1997 ,MOD)
GB/T 10580-2003 固體絕緣材料在試驗(yàn)前和試驗(yàn)時(shí)采用的標(biāo)準(zhǔn)條件(IEC 60212: 1971,IDT) ISO 293: 1986 塑料 熱塑性材料壓模塑試樣
ISO 294-1: 1996 塑料 熱塑性材料試樣的注模塑法 第1部分: 一般原則、多用途模塑件及條形試樣
ISO 294-3: 1996 塑科 熱塑性材料試樣的注模塑法 第3部分:小板 ISO 295: 1991 塑料 熱固性材料壓模塑試樣
ISO 10724: 1994 塑料 熱固性模塑料 注塑成型多用途試樣
聚酯薄膜電氣絕緣強(qiáng)度檢測(cè)儀
但是持續(xù)的吸入臭氧會(huì)造成對(duì)臭氧暫時(shí)失去知覺(jué)。正因?yàn)槿绱?,?dāng)持續(xù)出現(xiàn)臭氧的氣味或是一直存在臭氧產(chǎn)生的條件時(shí),采用工業(yè)監(jiān)控設(shè)備測(cè)量大氣中的臭氧濃度就十分重要了。采用恰當(dāng)?shù)姆椒?,例如排氣口,可以將工作區(qū)域內(nèi)的臭氧濃度降至可以接受的水平。
耐電壓擊穿試驗(yàn)儀
8. 取樣
8.1對(duì)該材料的說(shuō)明中應(yīng)定義詳細(xì)的取樣流程。
8.2為了質(zhì)量控制的目的,在取樣時(shí)應(yīng)收集足夠的樣品以評(píng)估被測(cè)樣品的平均質(zhì)量和被檢批次的變化情況,為了使所取樣品不受時(shí)間的影響,應(yīng)在實(shí)驗(yàn)室或其他測(cè)試區(qū)域已經(jīng)開(kāi)始準(zhǔn)備測(cè)試樣時(shí)進(jìn)行取樣。
8.3為了獲得最可取的測(cè)試條件,需要從那些遠(yuǎn)離材料中明顯缺損或是間斷的地方進(jìn)行取樣。對(duì)于卷材,除非要對(duì)缺損或間斷的出現(xiàn)或鄰近進(jìn)行調(diào)查,否則應(yīng)避免對(duì)外在的幾層進(jìn)行取樣,例如卷材包的最外層,或是緊鄰片或卷邊緣的材料。
8.4取樣應(yīng)足夠大,以便能夠按特殊材料的要求進(jìn)行各項(xiàng)測(cè)試(參見(jiàn)12.4)。
耐電壓擊穿試驗(yàn)儀ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗(yàn)方法
9. 測(cè)試樣
9.1準(zhǔn)備和處理:
9.1.1按照第8章的要求,從所選樣品中準(zhǔn)備測(cè)試樣。
9.1.2如果要使用平滑表面的電極,在不進(jìn)行實(shí)際表面加工的情況下,測(cè)試樣與電極接觸的表面應(yīng)盡可能具有平滑的平行面。
9.1.3測(cè)試樣應(yīng)具有足夠的大小以防止在測(cè)試時(shí)發(fā)生閃絡(luò)。對(duì)于薄的材料,使用足夠大的測(cè)試樣將便于在一片測(cè)試樣上進(jìn)行多次的測(cè)試。
9.1.4對(duì)于較厚的材料(通常厚度在2mm以上),應(yīng)具有足夠的絕緣強(qiáng)度,以便在擊穿前出現(xiàn)閃絡(luò)或強(qiáng)烈的表面局部放電(電暈)。用于防止閃絡(luò),或減少局部放電(電暈)的技術(shù)包括:
9.1.4.1在測(cè)試時(shí),將測(cè)試樣浸入到絕緣油中。環(huán)境介質(zhì)因素對(duì)擊穿的影響參見(jiàn)X1.4.7。對(duì)于那些沒(méi)有干燥且浸入到油中的測(cè)試樣以及那些按照D2413操作規(guī)程準(zhǔn)備的測(cè)試樣來(lái)說(shuō),這通常都是必要的(參見(jiàn)6.4)。
9.1.4.2在測(cè)試的一側(cè)或兩側(cè)加工出一個(gè)凹槽或是鉆出一個(gè)平底的洞,以減少測(cè)試的厚度。如果采用不同的電極(如表1中的6型電極),那么只需加工一個(gè)表面,兩個(gè)電極中較大的一個(gè)應(yīng)與加工好的表面相連接。加工測(cè)試樣時(shí)要小心,以免對(duì)測(cè)試樣造成污染或機(jī)械損壞。
9.1.4.3用封條或整流罩繞住于測(cè)試樣相連接的電極,以減少閃絡(luò)的發(fā)生。
9.1.5不平的材料應(yīng)采用與樣品材料和幾何形狀相近的測(cè)試樣(和電極)進(jìn)行測(cè)試。有必要按材料的說(shuō)明確定對(duì)這些材料所使用的測(cè)試樣和電極。
9.1.6無(wú)論材料的形狀如何,如果除了測(cè)試面對(duì)面的擊穿強(qiáng)度以外還要進(jìn)行其他測(cè)試,則要在該材料的說(shuō)明中指出所使用的測(cè)試樣和電極。
9.2幾乎在所有的情況下,測(cè)試樣的實(shí)際厚度都很重要。除非另有說(shuō)明,否則應(yīng)在測(cè)試后,測(cè)量擊穿點(diǎn)鄰近區(qū)域的厚度。應(yīng)在室溫條件下(25±5℃)進(jìn)行測(cè)量,并根據(jù)D374測(cè)試法采取恰當(dāng)?shù)牧鞒獭?/p>
耐電壓擊穿試驗(yàn)儀10. 校準(zhǔn)
10.1在校準(zhǔn)測(cè)量時(shí),測(cè)試樣應(yīng)處于通路狀態(tài),并注意那些以6.2所給精度進(jìn)行測(cè)量的電極電壓。
10.2將一個(gè)獨(dú)立的校準(zhǔn)電壓表連接到測(cè)試電壓源的輸出端,以檢測(cè)測(cè)量設(shè)備的精度。校準(zhǔn)測(cè)量適用的這類電壓表示例為:具有可比精度的電分壓器,或電壓互感器。
10.3在電壓大于12kV有效值(16.9kV峰值)時(shí),應(yīng)用球隙校準(zhǔn)電壓測(cè)量設(shè)備的讀數(shù)。ANSI C68.1將詳細(xì)說(shuō)明此種校準(zhǔn)的后續(xù)流程。
ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗(yàn)方法
耐電壓擊穿試驗(yàn)儀調(diào)節(jié)大多數(shù)固體絕緣體的擊穿強(qiáng)度都受到溫度和濕度的影響。因此在測(cè)試前,受此影響的材料應(yīng)用控制好的溫度和相對(duì)濕度進(jìn)行平衡。對(duì)于這種材料,調(diào)節(jié)應(yīng)包括在參照本測(cè)試法的標(biāo)準(zhǔn)中。除非另有說(shuō)明。否則應(yīng)按D618操作規(guī)程進(jìn)行后續(xù)流程。對(duì)于許多材料來(lái)說(shuō),濕度對(duì)擊穿強(qiáng)度的影響要大于溫度的影響。對(duì)材料進(jìn)行足夠長(zhǎng)時(shí)間的調(diào)節(jié),以使得測(cè)試樣同時(shí)達(dá)到濕度和溫度的平衡。如果調(diào)節(jié)時(shí)導(dǎo)致測(cè)試樣表面出現(xiàn)凝結(jié)水,應(yīng)在測(cè)試前將測(cè)試樣表面擦干。通常這樣可以減少表面閃絡(luò)的可能性。
耐電壓擊穿試驗(yàn)儀流程(注意:在開(kāi)始任何測(cè)試前請(qǐng)參見(jiàn)第7章。)電壓使用的方法:方法A,快速測(cè)試法—如圖1所示,從零點(diǎn)到擊穿發(fā)生,以一定的增壓速度,將均勻的電壓施加到試驗(yàn)電極上。除非另有說(shuō)明,否則將采用快速測(cè)試法。在確定增壓速度時(shí),為了使增速包含在新的規(guī)定值中,對(duì)于給定的測(cè)試樣,應(yīng)選擇在10到20s內(nèi)就發(fā)生擊穿的增速。在某些場(chǎng)合,有必要進(jìn)行1到2次的預(yù)測(cè)試,以確定增速。對(duì)于大多數(shù)材料而言,使用500V/s的增速。如果文件參考本測(cè)試方法所的增速,那么即使擊穿時(shí)間偶然出現(xiàn)在10到20s的范圍之外,也應(yīng)繼續(xù)采用。如果出現(xiàn)這種情況,應(yīng)在報(bào)告中記錄下失效次數(shù)。
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