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國(guó)標(biāo)GBT1409介電常數(shù)試驗(yàn)儀更新時(shí)間:2024-07-13型號(hào):GDA-A廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家瀏覽量:1194
國(guó)標(biāo)GBT1409介電常數(shù)試驗(yàn)儀電容測(cè)量:1~205 主電容調(diào)節(jié)范圍:18~220pF 準(zhǔn)確度:150pF以下±1.5pF; 150pF以上±1% 注:大于直接測(cè)量范圍的電容測(cè)量見(jiàn)后頁(yè)使用說(shuō)明
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薄膜介電常數(shù)試驗(yàn)機(jī)更新時(shí)間:2024-07-13型號(hào):GDAT-A廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家瀏覽量:814
薄膜介電常數(shù)試驗(yàn)機(jī)電介質(zhì)在恒定電場(chǎng)作用下,介質(zhì)損耗的功率為 W=U2/R=(Ed)2S/ρd=σE2Sd 定義單位體積的介質(zhì)損耗為介質(zhì)損耗率為 ω=σE2
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薄膜介電常數(shù)測(cè)定儀更新時(shí)間:2024-07-13型號(hào):GDAT-A廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家瀏覽量:920
薄膜介電常數(shù)測(cè)定儀是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì),通過(guò)測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。
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GB1409介電常數(shù)測(cè)試儀更新時(shí)間:2024-07-13型號(hào):GDAT-A廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家瀏覽量:827
GB1409介電常數(shù)測(cè)試儀儀器能在較高的測(cè)試頻率條件下,測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線的特性阻抗等。
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點(diǎn)膠紙介電常數(shù)測(cè)試儀更新時(shí)間:2024-07-12型號(hào):BQS-37a廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家瀏覽量:886
點(diǎn)膠紙介電常數(shù)測(cè)試儀由于 頻 率 范圍的不同,實(shí)際上電橋構(gòu)造會(huì)有明顯的不同。例如一個(gè)50p F-10 00p F的電容在 50 Hz時(shí)的阻抗為60 Md2-3 Md2,在100 kHz時(shí)的阻抗為3 000 Q-1 500 S1 頻率 為 100k Hz時(shí),橋的四個(gè)臂容易有相同數(shù)量級(jí)的阻抗,而在50H z-60H z的頻率范圍內(nèi)則是 不可能的。因此,出現(xiàn)了低頻和(相對(duì))高頻兩種不同形式的電橋。
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