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高分子絕緣電阻測(cè)量?jī)x:三電極系統(tǒng)常用于在測(cè)量電阻過程中避免產(chǎn)生體積電流。 注2:Wheatstone電橋常用于被測(cè)電阻與標(biāo)準(zhǔn)電阻進(jìn)行比較,目前此類電橋已較少使用。 注3:根據(jù)IEC 60050-121中的規(guī)定,“電導(dǎo)率”被定義為標(biāo)量或張量,它與電場(chǎng)強(qiáng)度的乘積是電流密度;“電阻率”

絕緣體積表面電阻率測(cè)試儀確定電阻特性(DC方法)表面電阻和表面電阻率的一般方法》。 與本部分中規(guī)范性引用的國(guó)際文件有一致性對(duì)應(yīng)關(guān)系的我國(guó)文件如下: -GB/T10580-2015固體絕緣材料在試驗(yàn)前和試驗(yàn)時(shí)采用的標(biāo)準(zhǔn)條件(IEC 60212:2010， IDT);2規(guī)范性引用文件

膏體體積電阻率測(cè)試儀測(cè)量要求 4.2.1測(cè)量時(shí)應(yīng)同時(shí)記錄所有測(cè)試量相關(guān)儀表的指示值,可重復(fù)測(cè)量的參數(shù)測(cè)量次數(shù)應(yīng)不少于三次， 取其算術(shù)平均值為測(cè)量值。 4.2.2各參數(shù)指示值的有效位數(shù)按計(jì)量?jī)x表的最小分度值讀取,最少應(yīng)保留一位小數(shù)。當(dāng)儀表指針擺 動(dòng)時(shí),指針擺動(dòng)不應(yīng)超過示盤的三個(gè)最小分度值,取其中間值的讀數(shù)為指示值。 4.3測(cè)量精度 測(cè)量精度采用表1中C級(jí)精度

全自動(dòng)薄膜體積電阻率測(cè)試儀電工產(chǎn)品、各種元器件的絕緣電阻；與恒溫水浴配套后，還能測(cè)量不同溫度下的塑料電線電纜（無屏蔽層）的絕緣電阻，該儀器具有測(cè)量精度高、性能穩(wěn)定、操作簡(jiǎn)單、輸入端高壓短路等優(yōu)點(diǎn)

鍍膜體積電阻測(cè)試儀GB/T 2828.1-2003計(jì)數(shù)抽樣檢驗(yàn)程序第1部分:按接收質(zhì)量限(AQL)檢索的逐批檢驗(yàn)抽樣 計(jì)劃(ISO 2859-1;1999,IDT) GB/T 2829-2002周期檢驗(yàn)計(jì)數(shù)抽樣程序及表(適用于對(duì)過程穩(wěn)定性的檢驗(yàn)) MT 76液壓支架(柱)用乳化油、濃縮物及其高含水液壓液